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書名：Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications [薄膜材料光譜橢偏儀簡介：儀器、數據分析與應用]
ISBN10：3527349510
ISBN13：9783527349517
書號：9783527349517
作者：Wee, Andrew T. S.
出版社：Wiley-Vch
出版年份：2022
English / 平裝
[ 工程 ] 材料
定價：NT4107
會員價：NT3902 省下：NT205
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